Датчик вторичных электронов с селекцией по энергиям для растрового электронного микроскопа

Механика и принципы методов исследования поверхности твердого тела: вторичная электронная эмиссия; масс-спектрометрия. Принципы работы растрового электронного микроскопа. Разработка алгоритма расчетов секторных магнитов с однородным магнитным полем.

22.02.2012 | Электровакуумные приборы | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника | Язык: русский | Просмотры: 103