Юстировка дифрактометра с ячейкой высокого давления и исследование диффрактограммы кремния

Понятие и свойства рентгеновского излучения. Принцип работы дифрактометра и метод Дебая-Шеррера. Расчёт углов пиков дифрактограммы. Прецизионное определение параметров элементарной ячейки. Определение размера кристаллитов поликристаллического образца.

17.05.2014 | Химия | Химия | Язык: русский | Просмотры: 107