Юстировка дифрактометра с ячейкой высокого давления и исследование диффрактограммы кремния
Понятие и свойства рентгеновского излучения. Принцип работы дифрактометра и метод Дебая-Шеррера. Расчёт углов пиков дифрактограммы. Прецизионное определение параметров элементарной ячейки. Определение размера кристаллитов поликристаллического образца.
17.05.2014 |
Химия |
Химия |
Язык: русский |
Просмотры: 157
