Описание метода атомно-силовой микроскопии, его достоинства и недостатки. Схематическое устройство атомно-силового микроскопа. Особенности осуществления процесса сканирования. Применение атомно-силовой микроскопии для определения морфологии тонких пленок.
09.12.2015 |
Методы экспертного контроля |
Производство и технологии |
Язык: русский |
Просмотры: 53
