Измерение рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением как одна из основных задач сканирующего туннельного микроскопа. Модельные виды идеальных твердотельных наноструктур. Характеристика самоорганизованных квантовых точек.
18.06.2017 |
Технологии |
Производство и технологии |
Язык: русский |
Просмотры: 62
