Характеристика засобів контролю поверхонь і поверхневого шару
Технологічне оснащення та узагальнення основних засобів контролю поверхонь і поверхневого шару. Метод гамма-променевої фотоелектронної спектроскопії. Метод електронної ОЖЕ-спектроскопії. Метод Раман-спектроскопії. Метод скануючої тунельної мікроскопії.
09.05.2011 |
Увлекательное |
Производство и технологии |
Язык: русский |
Просмотры: 55
