Шероховатость поверхности и ее измерений

Профиль, параметры и методы измерения шероховатости поверхности. Использование профилометра PS1 компании Mahr (Германия) для измерения неровностей. Оптический метод светового сечения. Принцип деяния интерферометров, растровых и окулярных микроскопов.

26.02.2014 | Методы и приборы контроля размеров | Производство и технологии | Язык: русский | Просмотры: 80