Программное обеспечение комплексов для зондовой микроскопии

Исследование поверхности арсенида галлия с помощью атомно-силовой микроскопии

Исследование методов формирования и контроля атомно-гладкой поверхности полупроводниковых материалов. Описания приборов на основе арсенида галлия. Изучение программ по обработке АСМ-изображений. Инструменты для анализа двухмерной структуры поверхности.

16.02.2014 | Программное обеспечение комплексов для зондовой микроскопии | Программирование, компьютеры и кибернетика | Язык: русский | Просмотры: 39