Исследование поверхности арсенида галлия с помощью атомно-силовой микроскопии
Исследование методов формирования и контроля атомно-гладкой поверхности полупроводниковых материалов. Описания приборов на основе арсенида галлия. Изучение программ по обработке АСМ-изображений. Инструменты для анализа двухмерной структуры поверхности.
16.02.2014 |
Программное обеспечение комплексов для зондовой микроскопии |
Программирование, компьютеры и кибернетика |
Язык: русский |
Просмотры: 38