Сканирующая зондовая микроскопия

История создания электронного микроскопа. Исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств при помощи сканирующих зондовых микроскопов. Уравнение обратного пьезоэффекта для кристаллов. Механические редукторы и шаговые электродвигатели.

03.05.2011 | Увлекательное | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника | Язык: русский | Просмотры: 110