Технология электоронно-оптических систем

Методы измерения точности формы рабочих поверхностей оптических деталей (сферы, плоскости)

Допуск на общую ошибку от номинального радиуса кривизны. Случаи обнаружения ошибок как в случае сферических поверхностей, так и плоских. Местные ошибки (ΔN) поверхности являются нарушением равномерности ее профиля. Оптическая схема интерферометров.

19.11.2008 | Технология электоронно-оптических систем | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника | Язык: русский | Просмотры: 43