Алгоритм угломерно-доплеровского измерения отклонений препятствий относительно предполагаемого курса носителя измерителя
Значение оценки профиля подстилающей поверхности при неподвижном носителе. Анализ структурной схемы оптимального измерителя профиля отражающей поверхности. Структура алгоритма измерения профиля применительно к условиям получения оценки отклонения.
06.04.2011 |
Электрические и электронные аппараты |
Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
Язык: русский |
Просмотры: 112
