Электронно-микроскопические методы исследования материалов

Сравнительные характеристики световых и электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности. Применение атомно-силового микроскопа.

10.01.2014 | Напылённые покрытия. Технология и оборудование | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника | Язык: русский | Просмотры: 155