Основы цифровой схемотехники

Оценка теплового режима ИМС. Расчет надежности полупроводниковых ИМС по внезапным отказам

Конструкционные проблемы теплового режима металлических пленок бескорпусных полупроводниковых интегральных микросхем: диаграмма нагрева и расчет надежности эскизного проекта. Интенсивность отказов конструкции и структуры проводника металлизации.

13.06.2009 | Основы цифровой схемотехники | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника | Язык: русский | Просмотры: 71