Исследование нанослоев Al2O3, синтезированных на пористом SiO2

Расчет оптических постоянных на основе экспериментальной зависимости коэффициента отражения. Формулы Френеля, полное внешнее отражение. Схематическое устройство оптического канала. Спектр поглощения корунда, а также сплошность изученных тонких пленок.

22.12.2012 | Физика | Физика и энергетика | Язык: русский | Просмотры: 116