Исследование нанослоев Al2O3, синтезированных на пористом SiO2
Расчет оптических постоянных на основе экспериментальной зависимости коэффициента отражения. Формулы Френеля, полное внешнее отражение. Схематическое устройство оптического канала. Спектр поглощения корунда, а также сплошность изученных тонких пленок.
22.12.2012 |
Физика |
Физика и энергетика |
Язык: русский |
Просмотры: 116