Исследование нанообъектов методом электронной оже-спектроскопии
Физические процессы, лежащие в основе электронной оже-спектроскопии (ЭОС). Механизмы ЭОС, область ее применения. Относительная вероятность проявления оже-эффекта. Глубина выхода оже-электронов. Анализ тонких пленок, преимущества ионного распыления.
17.12.2013 |
Прикладная физика |
Физика и энергетика |
Язык: русский |
Просмотры: 92
