Методы контроля толщины многослойных покрытий на основе тугоплавких оксидов
Перспективы методов контроля оптической толщины покрытий различного функционального назначения. Контроль толщины оптических покрытий на основе тугоплавких оксидов формируемых методом электронно-лучевого синтеза. Расчёт интерференционных покрытий.
18.03.2015 |
Оптика |
Физика и энергетика |
Язык: русский |
Просмотры: 93
