Анализ качественного и количественного состава поверхности. Первичный и вторичный фотоэффекты, структура спектров. Компенсация статической зарядки исследуемой поверхности. Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов. Формирование СЗМ изображений.
14.03.2011 |
Физика |
Физика и энергетика |
Язык: русский |
Просмотры: 43
