Исследование электрофизических свойств полупроводниковых материалов
Методы и средства изучения свойств наноструктур. Экспериментальное исследование электрофизических параметров полупроводниковых материалов. Проведение оценочных расчетов теоретического предела минимального размера изображения, получаемого при литографии.
28.03.2016 |
Физика полупроводников |
Физика и энергетика |
Язык: русский |
Просмотры: 72
