Особенности краевой, винтовой и смешанной дислокаций. Описание линейной системы дислокаций в кристалле, вектор Бюргерса. Поверхностные методы выявления дислокаций. Рентгеновская дифракционная топография, ионный проектор. Метод дифракционного контраста.
18.11.2014 |
Физика |
Физика и энергетика |
Язык: русский |
Просмотры: 56