Теоретические основы сканирующей зондовой микроскопии. Схемы сканирующих туннельных микроскопов. Атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Исследования поверхности кремния с использованием сканирующего зондового микроскопа NanoEducator.
16.08.2014 |
Физика поверхностных явлений |
Физика и энергетика |
Язык: русский |
Просмотры: 82
