Физика

Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем

Описание структуры и алгоритмов работы интегральных микросхем. Исследование образования поверхностных дефектов при воздействии низкоинтенсивного гамма-излучения. Методика прогнозирования отказов тестовых генераторов. Сопоставление результатов испытаний.

15.01.2015 | Физика | Физика и энергетика | Язык: русский | Просмотры: 134