Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов. Сканирующие элементы, защита зондовых микроскопов от внешних воздействий. Стабилизация термодрейфа положения зонда над поверхностью. Формирование и обработка изображений. Атомно-силовая микроскопия.
17.12.2014 |
Физические приборы |
Физика и энергетика |
Язык: русский |
Просмотры: 124
