Электронография

Методы структурного анализа тонких пленок. Метод дифракции электронов низких энергий (ДЭНЭ)

Исследование кристаллической структуры поверхности с помощью рентгеновских и электронных пучков. Дифракция электронов низких и медленных энергий (ДЭНЭ, ДМЭ), параметры. Тепловые колебания решетки, фактор Дебая-Валлера. Реализация ДЭНЭ, применение метода.

08.06.2012 | Электронография | Физика и энергетика | Язык: русский | Просмотры: 68