Физика

Эллипсометрическое измерение температуропроводности наноструктурированных материалов с использованием импульсного лазерного излучения

Характеристика методик испытаний, используемых для целей сертификации. Принципы эллипсометрического измерения температуропроводности наноструктурированных материалов. Процессы температуропроводности в нанопокрытиях при воздействии лазерного излучения.

13.12.2014 | Физика | Физика и энергетика | Язык: русский | Просмотры: 98